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K-WK4010可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱  

適用于電工、電子、儀器儀表及其他產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變濕熱循環(huán)下儲存、運(yùn)輸、適用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，特別適用于光纖，LCD，晶體，電感，電路板，電池，電腦等產(chǎn)品的耐高溫，耐低溫，

本機(jī)滿足GB2423.1－2001試驗(yàn)A《高溫試驗(yàn)方法》; GB2423.2－2001試驗(yàn)B《低溫試驗(yàn)方法》; GB2423.3－93試驗(yàn)Ca《恒定濕熱試驗(yàn)方法》; GB2423.4－93試驗(yàn)Db《交變濕熱試驗(yàn)方法》等國家標(biāo)準(zhǔn)，以及其它相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求。嚴(yán)格按GB 10592—89《高低溫試驗(yàn)技術(shù)條件》、GB10586－89《濕熱試驗(yàn)技術(shù)條件》GB10586-2006、ISO、UL等標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行設(shè)計(jì)制造，可進(jìn)行各種高低溫濕熱交變環(huán)境試驗(yàn)。